chroma 7505-01 多功能光學檢測系統

chroma 7505-01 多功能光學檢測系統

主要特色：一機具備1D、2D、3D量測能力具備膜后量測功能(1D)，使用穿透反射式量測，可進行非破壞式膜厚量測使用高解析度線型掃瞄相機，可進行高速2D瑕疵量測，可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵使用白光干涉量測技術，可進行3D三維形貌量測搭載電動式鼻輪，可同時掛載多種物鏡并可程式控制切換使用具備暗點以及邊界錯誤問題修正演算法模組化設計可依量測需求及預算考量進行各部件選配量測范圍可涵蓋約700 mm x 900 mm (可依需求提供更小尺寸)三維量測提供多種表面參數量測功能，如斷差高度、夾角、面積、體積、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度載臺具備真空吸附能力，軟性待側物可*平整的被吸附形成一個平整的平面友善的人機介面，簡單的圖形化控制系統及3D圖形顯示自動化快速自我校正能力，確認系統量測能力提供腳本量測功能，具備自動量測能力提供中/英文程式介面切換，chroma 7505-01 多功能光學檢測系統

Chroma新一代7505-01多功能光學檢測系統能實現在一設備上同時具備1D、2D、3D的量測能力。1D膜厚量測功能，利用穿透反射式量測，可對透明半透明的材料進行非破壞性膜厚量測。2D量測搭載高解析度線型掃瞄相機，搭配電腦精密控制的平臺進行水平掃描，量測范圍可達到700mm x 900mm的范圍，同時載臺具備真空吸附能力，針對軟性待測物如觸控面板、電子紙及AMOLED等軟性顯示器等可以平整的被吸附形成一個平整的平面。本系統可適合于各種需要進行微奈米等級量測并同時需要量測大范圍的應用。2D瑕疵量測，可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵，并可透過三維量測功能進一步對二維瑕疵進行高度或深度的分析，同時具備2D及3D瑕疵分析的功能，能解決傳統二維檢測無法量測高度或深度的缺點。目前3C產品朝小型化發展，相關上游供應產業，諸如半導體、平面顯示器、PCB、軟性顯示器、電子紙、OLED、微機電(MEMS) 、電子封裝等產業，對于各項二維三維的量測需求尺寸將會越來越小，各項尺寸量測的準確性會反映出產品的品質與效能，在制程中對各項尺寸品質的即時監測需求與日俱增。Chroma 7505-01能提供微奈米等級1D、2D、3D多功能的量測能力，可滿足各項產業及研究單位之需求，是您提升效率及節省成本的佳選擇。7505-01 多功能光學檢測系統

深圳市美佳特科技有限公司（簡稱“美佳特"）成立于2010年，致力于光通訊測試、通用電子測量及5G測試服務。美佳特以“無線溝通，溝通無極限 "企業使命，業務聚焦于精密測試測量儀器的租賃、銷售、維護、計量及測試環境搭建等一站式服務。

主營產品：示波器主機和模塊、眼圖儀、光譜儀、信號源、頻譜分析儀、網絡分析儀、阻抗分析儀、光通信儀器、誤碼儀、光時域反射儀、可調諧激光源、光功率計、光衰減器等。合作品牌：安捷倫、是德、泰克、安立、愛得萬、安騰、力科、馬可尼（IFR）、R&S、EXFO等。

主推：Agilent 86100D/C 示波器,keysight M8195A 任意波形發生器,Anritsu MS9740B/A 光譜分析儀,YOKOGAWA AQ6370D/E 光譜分析儀,keysight N1092A/C 采樣示波器,keysight E8257D 模擬信號發生器,keysight E5071C 矢量網絡分析儀