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chroma 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系，可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷具備自動對焦功能

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chroma 52906 PXI延伸卡 測試，3U 64位 PXI 延伸卡可熱插拔 PXI 卡可延伸 PXI 總線至機(jī)箱外